フォトルミネッセンス法を用いた3C-SiCの積層欠陥の観察
| dc.contributor.author | HIRANO, RII / 平野, 梨伊 | |
| dc.date.accessioned | 2014-05-16T01:10:27Z | |
| dc.date.available | 2014-05-16T01:10:27Z | |
| dc.date.issued | 2010-03-23 | |
| dc.description | 修士（工学）, 2009, 基礎理工学専攻 | |
| dc.identifier.uri | /sigma_local/handle/10721/4837 | |
| dc.publisher | 慶應義塾大学理工学研究科 | |
| dc.subject | フォトルミネッセンス | ja |
| dc.subject | 3C-SiC | ja |
| dc.subject | 積層欠陥 | ja |
| dc.subject | Photoluminescence | en |
| dc.subject | 3c-SiC | en |
| dc.subject | stacking faults | en |
| dc.title | フォトルミネッセンス法を用いた3C-SiCの積層欠陥の観察 | en_US |
| dc.title.alternative | Photoluminescence Observation of Stacking Faults in 3C-SiC | en_US |
| dc.type | 学位論文 |