放射線測定に向けたCMOS アバランシェフォトダイオードの温度補償の研究
dc.contributor.advisor | 松本, 佳宣 / 教授 | |
dc.contributor.author | MINAMIKAWA, MANABU / 南川, 真生 | |
dc.date.accessioned | 2014-05-16T01:18:25Z | |
dc.date.available | 2014-05-16T01:18:25Z | |
dc.date.issued | 2013-09-21 | |
dc.description | 修士(工学), 2013, 基礎理工学専攻 | |
dc.identifier.uri | /sigma_local/handle/10721/7027 | |
dc.publisher | 慶應義塾大学理工学研究科 | |
dc.subject | 放射線測定 | ja |
dc.subject | CMOSアバランシェフォトダイオード | ja |
dc.subject | 温度補償 | ja |
dc.subject | PTAT電圧源 | ja |
dc.subject | Radiation measurement | en |
dc.subject | CMOS avalanche photodiode | en |
dc.subject | Temperature compensation | en |
dc.subject | PTAT voltage generator | en |
dc.title | 放射線測定に向けたCMOS アバランシェフォトダイオードの温度補償の研究 | |
dc.title.alternative | Study of Temperature Compensation for CMOS Avalanche Photodiode in Radiation Measurement. | |
dc.type | 学位論文 |
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