放射線測定に向けたCMOS アバランシェフォトダイオードの温度補償の研究
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Date
2013-09-21
Authors
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Publisher
慶應義塾大学理工学研究科
Abstract
Description
修士（工学）, 2013, 基礎理工学専攻
Keywords
放射線測定, CMOSアバランシェフォトダイオード, 温度補償, PTAT電圧源, Radiation measurement, CMOS avalanche photodiode, Temperature compensation, PTAT voltage generator